发明名称 |
基于以理想周期信号得到的取样数据串来测量抖动的电路 |
摘要 |
抖动测量电路(10、11)中设有:通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2);以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串,测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号,所以,作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定,可以简易地测量抖动电平。 |
申请公布号 |
CN1253720C |
申请公布日期 |
2006.04.26 |
申请号 |
CN03123802.5 |
申请日期 |
2003.05.12 |
申请人 |
三菱电机株式会社;菱电半导体系统工程株式会社 |
发明人 |
花井寿佳;船仓辉彦;森长也 |
分类号 |
G01R29/02(2006.01) |
主分类号 |
G01R29/02(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
杨凯;王忠忠 |
主权项 |
1.一种抖动测量电路,其中设有:生成具有预定周期的周期性基准信号的基准信号发生部;通过响应所述基准信号对从测量对象输出的周期性的被测信号取样来得到取样数据串的变换部;存储从上述变换部得到的上述取样数据串的存储部;以及基于从所述存储部得到的所述取样数据串,测量所述被测信号的抖动的判定部;所述判定部通过对存储在上述存储部的所述取样数据串进行高速傅立叶变换来算出所述数据信号的频率成分,并通过比较从所述数据信号的频率成分得到的信噪比和存储在上述存储部的所期望的信噪比,测定所述抖动。 |
地址 |
日本东京都 |