发明名称 测试治具
摘要 本创作为有关一种测试治具,其主要于平台之容置槽内定位有晶片,使晶片之接脚与平台内所收容之测试电路板的电路接点相对应,并于平台上方设置有压制机构,其压制机构为透过一把手转动,使其带动把手所枢接之压制元件来压制其底部之抵压板,当平台之容置槽内的晶片与抵压板下方所设之加压部相对应时,即可扳动把手使其压制元件压制抵压板向下,让抵压板之加压部弹性抵压于受测之晶片上,并使晶片之接脚透过针盘之弹性端子与测试电路板之电路接点确实接触,以此进行晶片测试动作,进而达到测试速度快、省力省时、操作简单及晶片稳固定位之功效。
申请公布号 TWM289855 申请公布日期 2006.04.21
申请号 TW094218705 申请日期 2005.10.28
申请人 宏连国际科技股份有限公司 发明人 赵茂雄
分类号 G01R1/02 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人 江明志 台北市大安区忠孝东路4段148号2楼之4;张朝坤 台北市大安区忠孝东路4段148号2楼之4
主权项 1.一种测试治具,系于平台上设置有压制机构,其中 : 该压制机构为设置有可供压制元件枢接转动之把 手,并于把手左、右二侧设有可供结合于侧板之轴 部,而压制元件底部则具有抵压板,且抵压板下方 设有加压部; 该平台为设置于压制机构之抵压板下方,并于平台 表面设有可供预设晶片置入定位之容置槽,而平台 内则收容有预设测试电路板,其预设测试电路板之 预定电路接点则露出容置槽内,另于平台左、右二 侧与相邻之侧板间设有相对应之导引部及滑槽。 2.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该压 制机构之把手一侧延伸有可供压制元件枢接之连 接部。 3.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该压 制机构之压制元件可为轴承、滚珠轴承、凸轮、 偏心轮或其他具轴心转动且向下抵压之元件所构 成。 4.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该压 制机构之把手二侧相对之侧板内侧设有可供抵压 板二端嵌设之对应嵌槽。 5.如申请专利范围第4项所述之测试治具,其中该抵 压板底面与相邻嵌槽之间设有弹性支撑元件。 6.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该压 制机构之把手二侧的侧板后侧结合有止挡板。 7.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该平 台一侧为开设有可供预设测试电路板推入之插槽 。 8.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该平 台可进一步由上盖及底座所组成,其上盖可依容置 槽所置入之晶片的规格、形状不同而予以更换。 9.如申请专利范围第1项所述之测试治具,其中该平 台之容置槽内的晶片与测试电路板之间为进一步 设有具弹性端子之针盘,且弹性端子二侧分别设有 可供抵持晶片之接脚与测试电路板之电路接点之 抵持部。 图式简单说明: 第一图 系为本创作之立体外观图。 第二图 系为本创作之立体分解图。 第三图 系为本创作于使用前之立体外观图。 第四图 系为本创作于使用时之示意剖面图。 第五图 系为本创作于使用后之示意剖面图。 第六图 系为本创作另一较佳实施例之立体分解图 。 第七图 系为本创作再一较佳实施例于使用前之示 意剖面图。 第八图 系为本创作再一较佳实施例于使用后之示 意剖面图。
地址 台北市内湖区瑞光路513巷28号8楼