发明名称 半导体测试管理系统及方法
摘要 本发明涉及一种半导体测试管理系统及方法。一个第一计算机产生一个新版栅道法则以及传递新版栅道法则。一个第二计算机透过一个网络接收新版栅道法则,取得一个测试结果,将测试结果带入新版栅道法则以产生一个建议报告。其中测试结果包括相应于一个测试属性的一个测试值,当测试值满足测试属性的一个特定条件时,新版栅道法则决定一个最后建议,而建议报告包含最后建议。本发明提供的半导体测试管理系统及方法,可产生一致的最后建议。
申请公布号 CN1761043A 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN200510064278.6 申请日期 2005.04.14
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 卢膺伦;黄舜熙
分类号 H01L21/66(2006.01);H01L21/00(2006.01);G06Q10/00(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇
主权项 1、一种半导体测试管理系统,其特征在于所述半导体测试管理系统包括:一个第一计算机,用以产生一个新版栅道法则以及传递上述新版栅道法则;以及一个第二计算机,透过一个网络接收上述新版栅道法则,取得一个测试结果,将上述测试结果带入新版栅道法则以产生一个建议报告,其中上述测试结果包括相应于一个测试属性的一个测试值,当上述测试值满足上述测试属性的一个特定条件时,上述新版栅道法则决定一个最后建议,并且上述建议报告包含上述最后建议。
地址 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号