发明名称 |
半导体测试管理系统及方法 |
摘要 |
本发明涉及一种半导体测试管理系统及方法。一个第一计算机产生一个新版栅道法则以及传递新版栅道法则。一个第二计算机透过一个网络接收新版栅道法则,取得一个测试结果,将测试结果带入新版栅道法则以产生一个建议报告。其中测试结果包括相应于一个测试属性的一个测试值,当测试值满足测试属性的一个特定条件时,新版栅道法则决定一个最后建议,而建议报告包含最后建议。本发明提供的半导体测试管理系统及方法,可产生一致的最后建议。 |
申请公布号 |
CN1761043A |
申请公布日期 |
2006.04.19 |
申请号 |
CN200510064278.6 |
申请日期 |
2005.04.14 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
卢膺伦;黄舜熙 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01);H01L21/00(2006.01);G06Q10/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01) |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
1、一种半导体测试管理系统,其特征在于所述半导体测试管理系统包括:一个第一计算机,用以产生一个新版栅道法则以及传递上述新版栅道法则;以及一个第二计算机,透过一个网络接收上述新版栅道法则,取得一个测试结果,将上述测试结果带入新版栅道法则以产生一个建议报告,其中上述测试结果包括相应于一个测试属性的一个测试值,当上述测试值满足上述测试属性的一个特定条件时,上述新版栅道法则决定一个最后建议,并且上述建议报告包含上述最后建议。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号 |