发明名称 测试装置及其设置方法
摘要 一种测试电气元件的测试装置,包括:多个信号输入-输出单元,其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和/或输出测试信号;一个通道选择存储器,其存储指示每个信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息;一个设置条件存储器,其存储关于信号输入-输出单元的设置条件;以及一个控制构件;当接收到设置指令以设置信号输入-输出单元的设置条件时;其根据设置指令检索并向信号输入-输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息,其中当至少一个信号输入-输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时,则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入-输出单元。
申请公布号 CN1761885A 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN200480007212.7 申请日期 2004.03.16
申请人 爱德万测试株式会社 发明人 矢口刚史
分类号 G01R31/3183(2006.01) 主分类号 G01R31/3183(2006.01)
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁
主权项 1、一种测试电气元件的测试装置,其包括:多个信号输入-输出单元,其响应所述电气元件中所包括的多个端子中的每一个来输入和/或输出测试信号;一个通道选择存储器,其存储指示每个所述信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条频道选择信息;一个设置条件存储器,其存储关于所述信号输入-输出单元的所述设置条件;以及一个控制构件,当接收到所述设置指令以设置所述信号输入-输出单元的设置指令时,其根据设置指令检索并向所述信号输入-输出单元提供存储在所述设置条件存储器中的设置条件和存储在所述通道选择存储器中的通道选择信息,其中当至少一个所述信号输入-输出单元被所述控制构件提供的通道选择信息选中时,则根据从所述控制构件提供的所述设置条件设置所述信号输入-输出单元中所述的一个。
地址 日本东京都
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