发明名称 减少分析装置中的钩状效应
摘要 提供了检测试样中被分析物的存在或量的基于膜的分析装置。该装置利用包含所感兴趣的被分析物的特异性结合元件的缀合探针。当互相接触时,该特异性结合元件优先与试样内的被分析物络合。保持与特异性结合元件未络合的过量被分析物经历非特异结合例如至疏水性域。结果,未络合被分析物与装置检测区中的络合被分析物的竞争能力受到限制。因此,以简单、有效和相对便宜的方式控制“假阴性”的发生率。
申请公布号 CN1761880A 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN200480007328.0 申请日期 2004.03.03
申请人 金伯利-克拉克环球有限公司 发明人 卫宁;黄延宾;杨开元
分类号 G01N33/58(2006.01);G01N33/558(2006.01);G01N33/543(2006.01) 主分类号 G01N33/58(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 郭广迅;庞立志
主权项 1.一种检测试样中被分析物的存在或量的方法,该方法包括:i)提供一种流过式分析装置,该装置包括与能够产生检测信号的检测探针联系的多孔膜,所述检测探针与被分析物的特异性结合元件缀合,所述多孔膜限定接受材料被固定于其中的检测区;ii)使包含被分析物的试样与所述缀合的检测探针接触,以便形成被分析物/探针络合物和未络合被分析物;iii)令所述未络合被分析物经历非特异性结合;和iv)在所述被分析物/探针络合物和所述检测区内的所述接受材料之间形成三元络合物,其中所述接受材料保持相对不含所述未络合被分析物。
地址 美国威斯康星州