发明名称 绝缘体上硅金属氧化物场效应管的制作方法
摘要 提供了一种制作SOI金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)的方法。此SOI MOSFET含有多晶硅背栅来控制含多晶硅前栅的阈值电压。在SOI MOSFET器件中背栅起动态阈值电压控制系统的作用,因为它适用于电路/系统运行期间和闲置期间。
申请公布号 CN1252833C 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN03155080.0 申请日期 2003.08.27
申请人 国际商业机器公司 发明人 罗伯特·H.·丹纳德;维尔弗理德·E.·何恩什;哈赛恩·I.·汉纳非
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1.一种绝缘体上硅金属氧化物场效应晶体管器件的制作方法,包含以下步骤:提供一种结构,至少包含在含硅层表面上的背栅氧化物,所述含硅层为SOI晶片的一部分;在所述背栅氧化物上制作背栅STI和第一多晶硅层的交替区;在所述背栅STI和第一多晶硅层的交替区上制作第二多晶硅层;在所述各多晶硅层中离子注入背栅区;在所述第二多晶硅层上制作氧化层;将支撑衬底晶片键合至所述氧化层上,再将键合的结构翻过来而露出所述SOI晶片的各层;除去选择的所述SOI晶片各层,终止于所述含硅层;将所述含硅层的一部分转换为本体区;以及在所述本体区上制作栅介电层和多晶硅栅。
地址 美国纽约