发明名称 |
微芯片和提取样品方法、分离样品方法、分析样品方法及回收样品方法 |
摘要 |
将样品-载体复合物(119)引入到样品引入部分(107)并且使其移动直至在堰塞部分(111)处被沉积。在将预定数量的样品-载体复合物(119)沉积在堰塞部分(111)的情况下,加热堰塞部分(111)。通过加热到预定温度,将样品-载体复合物(119)分解成样品(121)和载体(123)。并且在样品引入部分(107)和样品回收部分(109)之间施加电压,使样品(121)移动通过柱状体(115)之间进入到第二通道(106)中,从而进行预定的分离、分析或回收操作。 |
申请公布号 |
CN1761865A |
申请公布日期 |
2006.04.19 |
申请号 |
CN200480007421.1 |
申请日期 |
2004.03.19 |
申请人 |
日本电气株式会社 |
发明人 |
佐野亨;马场雅和;饭田一浩;川浦久雄;井口宪幸;服部涉;染谷浩子 |
分类号 |
G01N1/10(2006.01);G01N35/08(2006.01);G01N37/00(2006.01);B01D57/00(2006.01);B01D57/02(2006.01) |
主分类号 |
G01N1/10(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
程金山 |
主权项 |
1、一种微芯片,所述微芯片包含其中提供有通道的基层材料,所述微芯片从引入到通道中的复合物中提取样品,所述复合物是样品和保有所述样品的载体的复合物,其中所述通道包括:进口,通过所述进口将所述复合物引入;堰塞部分,所述部分阻挡所述复合物;引入通道,从所述进口到所述堰塞部分提供所述通道,复合物流过所述引入通道;和位于堰塞部分下游侧的样品通道,所述样品通道和引入通道通过堰塞部分相通,样品流过所述样品通道,从被阻挡在堰塞部分的复合物中提取样品。 |
地址 |
日本东京都 |