发明名称 集成电路用气密封装盖板制备方法
摘要 本发明涉及集成电路用气密封装盖板制备方法,包括将可伐合金冲成片材,于其上镀金,将AuSn<SUB>20</SUB>合金箔带材冲制成框或环,镀金可伐合金片材表面上放置有形状相互对应的AuSn<SUB>20</SUB>合金框,脉冲点焊实现镀金可伐合金片材与AuSn<SUB>20</SUB>合金框的固定连接。采用本发明制备的复合盖板,可用于集成电路封装,简化了封装流程,缩短了封装周期,增强了集成电路器件的气密性,有助于改善产品外观,提高产品的合格率。
申请公布号 CN1252806C 申请公布日期 2006.04.19
申请号 CN200310121010.2 申请日期 2003.12.31
申请人 贵研铂业股份有限公司 发明人 陈登权;刘泽光;罗锡明;许昆
分类号 H01L21/48(2006.01);H01L23/02(2006.01) 主分类号 H01L21/48(2006.01)
代理机构 昆明正原专利代理有限责任公司 代理人 赛晓刚
主权项 1.集成电路用气密封装盖板制备方法,包括将可伐合金冲成片材,之后于所述片材上镀金,将AuSn20合金箔带材冲制成框或环,其特征在于所述镀金可伐合金片材的周边形状与所述AuSn20合金框或环的外沿形状对应,所述镀金可伐合金片材表面上放置有所述AuSn20合金框或环,脉冲点焊熔化AuSn20合金以实现所述镀金可伐合金片材与所述AuSn20合金框或环的固定连接,所述脉冲点焊使用的电极间充电电压为70~80V,电极间接触压力为2牛顿。
地址 650221云南省昆明市二环北路核桃箐