| 发明名称 | 测量非共面电极激光器芯片的高频测试夹具 | ||
| 摘要 | 一种测量非共面电极激光器芯片的高频测试夹具，其特征在于，包括：多个导体平板，该导体平板为矩形，该多个导体平板相互叠放焊接构成多台阶结构；该多台阶结构的落差均不相同。 | ||
| 申请公布号 | CN1760687A | 申请公布日期 | 2006.04.19 |
| 申请号 | CN200410081183.0 | 申请日期 | 2004.10.11 |
| 申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 陈诚;祝宁华 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汤保平 |
| 主权项 | 1、一种测量非共面电极激光器芯片的高频测试夹具，其特征在于，包括：多个导体平板，该导体平板为矩形，该多个导体平板相互叠放焊接构成多台阶结构；该多台阶结构的落差均不相同。 | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区清华东路甲35号 | ||