发明名称 Design rule checking integrated circuits
摘要 A method of design rule checking an integrated circuit identifies any line having a line width marker and line width parameter, extracts each line having a line width marker, determines the line width parameter for each extracted line, and compares the line width parameter with an actual line width for the line.
申请公布号 US7032199(B2) 申请公布日期 2006.04.18
申请号 US20040781964 申请日期 2004.02.19
申请人 MICRON TECHNOLOGY, INC. 发明人 CHEVALLIER CHRISTOPHE;ABABEI ADRIANA
分类号 G06F17/50 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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