发明名称 制造具有一张力半导体层之一半导体装置之方法
摘要 将一植体(18)施行在P通道区,同时覆盖N通道区,而深入地非晶化一半导体层(12)表面的一层(16)。在此非晶化的步骤之后,将锗植入该非晶化的层。该锗(20)植入的深度小于非晶化的深度。将此非晶系的掺锗层(22)加热使得它再结晶化。该等再结晶化导致出一半导体层(24),其为矽锗(SiGe)且为有压缩力的。然后P通道电晶体(25)形成在该再结晶化的半导体层(24)中。本方法也可以应用于N通道(26)一侧同时覆盖P通道一侧。在本案例中,该植体较佳的是用碳来替代锗。
申请公布号 TW200612498 申请公布日期 2006.04.16
申请号 TW094119326 申请日期 2005.06.10
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 希南 高特培里
分类号 H01L21/425 主分类号 H01L21/425
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国