| 发明名称 |
GLEICHZEITIGE UND SICH SELBST KALIBRIERENDE ANPASSUNG VON SUBAPERTUREN ZUR MESSUNG VON OBERFLÄCHENFORMEN ( INTERFEROMETER ) |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AT321992(T) |
申请公布日期 |
2006.04.15 |
| 申请号 |
AT20020027674T |
申请日期 |
2002.12.12 |
| 申请人 |
QED TECHNOLOGIES, INC. |
发明人 |
GOLINI, DONALD;FORBES, GREGORY;MURPHY, PAUL E. |
| 分类号 |
G01B11/24;G01B9/02;G01B11/255;G01J9/00;G01M11/00;G01M11/02;G01N21/84;(IPC1-7):G01B11/255;G06T11/00;G02B7/00 |
主分类号 |
G01B11/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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