发明名称 Verfahren und Anordnung zum Bestimmen des Abstandes einer in Richtung der Abstandsbestimmung profilierten, leitfähigen Oberfläche von einer sich relativ zu der Oberfläche bewegenden Funktionsfläche
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zum Bestimmen des Abstandes einer in Richtung der Abstandsbestimmung profilierten, leitfähigen Oberfläche von einer sich relativ zu der Oberfläche bewegenden Funktionsfläche mit einer Messanordnung, bei der zwei Messspulen an einer Oszillatoranordnung liegen und ausgangsseitig über eine Demodulator-Einrichtung mit einer Analog-Digital-Wandler-Einrichtung verbunden sind, an die ein Rechenbaustein angeschlossen ist. DOLLAR A Um bei einem solchen Verfahren bzw. bei einer solchen Anordnung eine Abstandsmessung weitestgehend unbeeinfluss von dem Profil der leitfähigen Oberfläche und von Änderungen der Umgebungstemperatur durchführen zu können, wird ein Sensor (1) eingesetzt, dessen zweite Messspule (3) auf der von der Oberfläche (4) angewandten Seite der ersten Messspule (2) in einem festen, bekannten Abstand zu ihr angeordnet ist. In einem Rechenbaustein (31) wird der Abstand der Funktionsfläche von der profilierten Oberfläche (4) unter Berücksichtigung der digitalen Messwerte (N1, N2) der beiden Messspulen (2, 3) und eines Referenz-Digitalwertes (N3) und des festen Abstands errechnet.
申请公布号 DE102004049753(B3) 申请公布日期 2006.04.13
申请号 DE200410049753 申请日期 2004.10.08
申请人 SIEMENS AG;MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO KG 发明人 GROEMMER, WERNER;MEDNIKOV, FELIX;SCHMID, ROBERT;SELLEN, MARTIN;WEIS, BENNO
分类号 G01B7/14 主分类号 G01B7/14
代理机构 代理人
主权项
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