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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen einer Halbleitervorrichtung, wobei die Halbleitervorrichtung in einem Normal-Betriebsmodus und einem Testmodus betreibbar ist und Ausgangstreiber (10), Eingangstreiber (16) und Datenpads (12; 34, 36) umfaßt, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt: DOLLAR A - Übermitteln von für einen Test zu verwendenden Testeingangsdaten an die Halbleitervorrichtung; DOLLAR A - Durchführen eines Tests unter Verwendung der Testeingangsdaten, um Testausgangsdaten zu erhalten, wobei die ausgelesenen Testdaten über einen Ausgangstreiber (10), zumindest ein Datenpad (12; 34, 36) und einen Eingangstreiber (16) geführt werden und die Eingangstreiber (16) und Ausgangstreiber (10) während des Tests derart geschaltet sind, daß ein gleichzeitiges Lesen und Schreiben von Daten aus bzw. in die Halbleitervorrichtung ermöglicht wird; und DOLLAR A - Erstellen eines Datentestergebnisses aus den Testausgangsdaten. DOLLAR A Ferner betrifft die Erfindung eine Halbleitervorrichtung und ein System zum Testen einer Halbleitervorrichtung.
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