发明名称 一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法
摘要 一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统和方法,属于光和辐射测量技术领域。其特征在于积分球上分别设置探头安装孔和光纤耦合孔,通过探头、光纤分别与光谱分析仪相连,光谱分析仪与计算机连接。其测量方法,包括以下步骤:所采用的探头用已知相对光谱功率分布P(λ)<SUB>A</SUB>的A光源进行了定标,测量待测光源的光度值;光谱分析仪所测得的光源光谱数据输入计算机中,按公式计算出光谱解析校正系数K,乘以探头所测得的待测光源的光度值,即得到待测光源的精确光度值。上述的测量系统和方法,可以在探头的相对光谱灵敏度为非V(λ)曲线的情况下,实现测量系统中宽线性范围、高精度的光度测量。
申请公布号 CN1758036A 申请公布日期 2006.04.12
申请号 CN200510050854.1 申请日期 2005.07.26
申请人 潘建根 发明人 潘建根;沈海平
分类号 G01J1/16(2006.01);G01J3/28(2006.01) 主分类号 G01J1/16(2006.01)
代理机构 杭州浙科专利事务所 代理人 吴秉中
主权项 1.一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统,其特征在于积分球(4)上分别设置探头安装孔和光纤耦合孔,通过探头(3)、光纤(5)分别与光谱分析仪(2)相连,光谱分析仪(2)与计算机(1)连接。
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