| 发明名称 | 具有并行测试的存储器模块 | ||
| 摘要 | 为了高效测试，存储器模块的每个存储器芯片测试来自X个存储区的总共N个数据位，并从存储区之一输出N/X个测试数据位。存储器模块包括多个存储器芯片和多个比较单元。每个比较单元被配置在各自的存储器芯片中，用来测试来自多个存储区的多个测试数据位。另外，每个比较单元从各自的存储器芯片中的存储区之一中输出测试数据位。 | ||
| 申请公布号 | CN1758382A | 申请公布日期 | 2006.04.12 |
| 申请号 | CN200510071654.4 | 申请日期 | 2005.03.23 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金润哲;李俊熙;崔熙柱;河桂元 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 黄小临;王志森 |
| 主权项 | 1、一种存储器模块，包括：多个存储器芯片；以及多个比较单元，每个比较单元被配置在各自的存储器芯片中，用来测试来自多个存储区的多个测试数据位，并用来从各自的存储器芯片中的存储区之一中输出测试数据位。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||