发明名称 半导体处理用紫外线辅助处理装置
摘要 一种半导体处理用紫外线辅助处理装置(10),具有与载置台(11)对置的、设置于构成处理室(12)的壁上的、使紫外线透射的窗(20)。设有与窗(20)对置的、向处理室(12)外发出紫外线的光源(15)。用于向处理室(12)的内部供给处理气体的供给系统具有形成于窗(20)内部的、使处理气体通过的顶部空间(21)和用于排出处理气体的多个排气孔(22)。
申请公布号 CN1251311C 申请公布日期 2006.04.12
申请号 CN02805383.4 申请日期 2002.03.13
申请人 东京毅力科创株式会社 发明人 邵寿潜;李一成
分类号 H01L21/31(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 龙淳
主权项 1.一种利用紫外线对基板进行处理的处理装置,其特征在于,具有:收纳被处理基板的处理室;设置于所述处理室内,支承所述被处理基板的载置台;隔着所述载置台,对所述被处理基板进行加热的加热器;与所述载置台对置的、设置于构成所述处理室的壁上的、使紫外线透射的窗;与所述窗对置的、设置于所述处理室外的、发出紫外线的光源;用于排出所述处理室内部气体的排气系统;以及用于向所述处理室内部供给处理气体的供给系统,所述供给系统包括顶部空间和多个排气孔,所述顶部空间使形成于所述窗的内部的所述处理气体通过,所述多个排气孔形成于与所述载置台对置的所述窗的面上,并且与所述顶部空间连通,以排出所述处理气体,所述顶部空间和所述排气孔由形成所述窗的材料本身加工而成,所述窗是由可透射紫外线的多个板状结构部件贴合而成。
地址 日本东京都港区