发明名称 具有防止压力过大之测试装置
摘要 一种具有防止压力过大之测试装置,其系测试一导电模组是否准确连结于一电路板,包含一第一测试板、至少一第一导柱、一第二测试板、至少一弹性元件以及一第三测试板。其中第一测试板系具有一第一表面、一第二表面与一穿透孔,且穿透孔系贯穿第一表面与第二表面,第一导柱系设置于第一表面,第二测试板系设置于第一表面,且第一导柱系穿设于第二测试板,弹性元件之一端系设置于第二测试板且弹性元件之另一端系设置于第三测试板,以及第三测试板系设置于穿透孔中。
申请公布号 TWI252923 申请公布日期 2006.04.11
申请号 TW093131882 申请日期 2004.10.20
申请人 华硕电脑股份有限公司 发明人 李元强;王忠平;江润成;潘聪富;陈道宏
分类号 G01R1/02 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人 刘正格 台北市大同区重庆北路3段88号3楼之1
主权项 1.一种具有防止压力过大之测试装置,其系测试一 导电模组是否准确连结于一电路板,包含: 一第一测试板,其系具有一第一表面、一第二表面 与一穿透孔,其中该穿透孔系贯穿该第一表面与该 第二表面; 至少一第一导柱,其系设置于该第一表面; 一第二测试板,其系设置于该第一表面,且该第一 导柱系穿设于该第二测试板; 至少一弹性元件,其一端系设置于该第二测试板; 以及 一第三测试板,其系设置于该穿透孔中,且该弹性 元件之另一端系设置于该第三测试板。 2.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,更包含: 一定位板; 复数个支柱,其中该等支柱之第一端系组设于该第 一表面,且该等支柱之第二端系组设该定位板; 一弹性模组,其系设置于该定位板与该第一表面之 间,并组设于该定位板。 3.如申请专利范围第2项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该弹性模组包含: 一套筒柱,其中该套筒柱之第一端系组设于该定位 板; 一套筒,其系套设于该套筒柱之第二端;以及 一第一弹簧,其系环设于该套筒柱,且该第一弹簧 之第一端系组设于该套筒柱,该第一弹簧之第二端 系组设于该套筒之筒口端。 4.如申请专利范围第3项所述之具有防止压力过大 之测试装置,更包含: 至少一第二导柱,其系穿设于该第二测试板并组设 于该第三测试板,且该第二导柱与该套筒柱共轴心 线。 5.如申请专利范围第4项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该第二导柱系一螺栓,其中该螺 栓系以无螺纹部穿设于该第二测试板。 6.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,更包含: 一测试模组,其系设置于该第三测试板,并具有一 测试基座、一框架与至少一测试元件,其中该测试 基座系设置于该第三测试板,该框架系沿该测试基 座外缘设置于该第三测试板,该测试元件系设置于 该测试基座。 7.如申请专利范围第6项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该测试元件之至少一部分系凸出 于该测试模组,且该测试元件之至少一部分系插入 该导电元件。 8.如申请专利范围第6项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该测试元件系一金属圆柱。 9.如申请专利范围第6项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该框架系由弹性材质所构成。 10.如申请专利范围第6项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该框架系由塑胶材质所构成。 11.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,更包含: 一探针,其系侦测该第三测试板以及该电路板之一 距离,并产生一侦测结果。 12.如申请专利范围第11项所述之具有防止压力过 大之测试装置,更包含: 一开关,其系依据该侦测结果停止该具有防止压力 过大之测试装置作动。 13.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该导电模组系一插座模组。 14.如申请专利范围第13项所述之具有防止压力过 大之测试装置,其中该插座模组包含: 一基座,其系设置于该电路板;以及 一固定杆,其系设置于该基座。 15.如申请专利范围第14项所述之具有防止压力过 大之测试装置,更包含: 一导电模组通孔,其中该固定杆系穿越该导电模组 通孔。 16.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该弹性元件系一弹簧。 17.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该第二测试板与该第三测试板系 由电木材质所构成。 18.如申请专利范围第1项所述之具有防止压力过大 之测试装置,其中该电路板系为一主机板。 图式简单说明: 图1A为一示意图,显示习知测试装置; 图1B为一分解示意图,显示习知测试装置;以及 图2为一示意图,显示依本发明较佳实施例之具有 防止压力过大之测试装置; 图3A为一示意图,显示依本发明较佳实施例之具有 防止压力过大之测试装置,其中具有防止压力过大 之测试装置包含定位板; 图3B为一局部示意图,显示依本发明较佳实施例之 具有防止压力过大之测试装置,其中测试模组系装 置于第三测试板; 图3C为一侧视图,显示依本发明较佳实施例之具有 防止压力过大之测试装置,其中具有防止压力过大 之测试装置包含定位板; 图4A为一示意图,显示依本发明较佳实施例之具有 防止压力过大之测试装置,其中具有防止压力过大 之测试装置用于电路板测试治具;以及 图4B为一分解示意图,显示依本发明较佳实施例之 具有防止压力过大之测试装置,其中具有防止压力 过大之测试装置用于电路板测试治具。
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