发明名称 Probenpräparation für eine Analyse
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erzeugen einer Probe für eine Analyse der Probe. Es wird ein Verfahren zum Erzeugen einer Probe für eine Analyse der Probe mit folgenden Verfahrensschritten angegeben: a) Bereitstellen einer Baugruppe, b) Vergießen der Baugruppe mit einer aushärtbaren Vergussmasse, c) Aushärten der Vergussmasse, wobei ein Verbundwerkstück mit der Baugruppe und der ausgehärteten Gussmasse entsteht, und d) zumindest teilweises Zerkleinern des Verbundwerkstücks zu Probepartikel der Probe. Das Zerkleinern ist insbesondere ein Zerspanen, vorzugsweise ein Fräsen. Es wird eine homogenen Probe erhalten. Mithilfe der homogenen Probe kann eine einfache und exakte Analyse durchgeführt werden.
申请公布号 DE102004047350(A1) 申请公布日期 2006.04.06
申请号 DE200410047350 申请日期 2004.09.29
申请人 SIEMENS AG 发明人 SCHUSTER, MANFRED
分类号 G01N1/28 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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