发明名称 剥离法薄膜附着力的测量装置
摘要 一种剥离法薄膜附着力测量装置,其特征在于它由支架、螺杆、螺母、弹簧和测量小砧组成,支架上下横框中心同一轴线上分别设有“”形上通孔和圆形下通孔,横截面为“”形的螺杆下端设有圆孔,竖直平面上设有标尺,带有较长手柄的螺母的螺孔四周设有等分圆周的刻度,测量小砧上端设有圆孔,螺杆穿过上通孔,测量小砧穿过圆形下通孔,弹簧两端分别钩挂在螺杆的圆孔和测量小砧的圆孔中。该装置具有结构简单、操作方便、价格低廉的特点。
申请公布号 CN1249422C 申请公布日期 2006.04.05
申请号 CN200410024821.5 申请日期 2004.06.01
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 张东平;黄建兵;齐红基;赵元安;张大伟;邵建达;范正修
分类号 G01N19/04(2006.01) 主分类号 G01N19/04(2006.01)
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1.一种剥离法薄膜附着力测量装置,其特征在于它由支架(1)、螺杆(4)、螺母(10)、弹簧(7)和测量小砧(8)组成,支架(1)上下横框中心同一轴线上分别设有<img file="C2004100248210002C1.GIF" wi="120" he="56" />形上通孔(2)和圆形下通孔(3),横截面为<img file="C2004100248210002C2.GIF" wi="150" he="66" />形的螺杆(4)下端设有圆孔(6),竖直平面上设有标尺(5),带有较长手柄(11)的螺母(10)的螺孔四周设有等分圆周的刻度(12),测量小砧(8)上端设有圆孔(9),所述的螺母(10)与所述的螺杆(4)匹配并拧在其上,螺杆(4)穿过上通孔(2),测量小砧(8)穿过圆形下通孔(3),弹簧(7)两端分别钩挂在螺杆(4)的圆孔(6)和测量小砧(8)的圆孔(9)中。
地址 201800上海市800-211邮政信箱