| 发明名称 | 确定在光学介质上写入/擦除信息的功率参数的设备和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种确定用于借助辐射束在光学记录介质上写入/擦除信息的写入/擦除功率参数(P<SUB>target</SUB>)的值的设备和方法。所述方法是基于通过一组参数a－b－c的函数的曲线拟合作出的，所述函数在辐射束的功率电平(P)和已记录信号的调制因数(M)的乘积与功率电平(P)之间建立了一种关系。因此所述参数组用于对在伽马曲线和功率电平(P)之间建立一种关系的等式进行求解，所述等式的解被看作是写入/擦除功率参数(P<SUB>target</SUB>)的最佳值。因此能够从写入/擦除功率参数(P<SUB>target</SUB>)获得最佳功率电平(P<SUB>opt</SUB>)。应用：光学记录介质的写入/擦除。 | ||
| 申请公布号 | CN1757063A | 申请公布日期 | 2006.04.05 |
| 申请号 | CN200480005866.6 | 申请日期 | 2004.02.20 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | A·J·J·范登霍根;C·G·徐 |
| 分类号 | G11B7/0045(2006.01);G11B7/006(2006.01);G11B7/0055(2006.01) | 主分类号 | G11B7/0045(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 程天正;张志醒 |
| 主权项 | 1.一种确定在光学记录设备中使用的用于借助辐射束(105)在光学记录介质(101)上写入/擦除信息的写入/擦除功率参数(Ptarget)的值的方法，所述方法包括下列递归步骤：-第一步(401)，在记录介质上写入一系列的测试图案，每个测试图案是用不同功率电平(P)值的辐射束写入的，所述功率电平(P)具有在最小功率电平(Pmin)和最大功率电平(Pmax)之间变化的变化范围，-第二步(402)，读取记录介质上的测试图案以获得读取信号部分，-第三步(403)，从每个读取信号部分获得读取参数(M)的值，用于确定一组包含最小读取参数(Mmin)的读取参数，-第四步(404)，用于对定义了读取参数(M)和功率电平(P)的组合与功率电平(P)之间的关系的函数(f)进行曲线拟合，所述函数由一组参数(a，b，c)来表征，-第五步(405)，根据所述参数组(a，b，c)检查将由最大功率电平(Pmax)、最小功率电平(Pmin)和最小读取参数(Mmin)满足的条件，-第六步(406)，如果所述条件不满足，则修改功率电平(P)的变化范围，然后返回至第一步(401)，-第七步(407)，如果满足所述条件，则从一个具有功率电平(P)作为变量的等式提取所述写入/擦除功率参数(Ptarget)的值。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||