发明名称 |
一种基于散热装置的电子设备的老化方法 |
摘要 |
本发明提供一种基于散热装置的电子设备的老化方法,其核心为:使电子设备在常温环境下处于工作状态,控制电子设备的散热装置,对电子设备进行老化。本发明能够使电子设备尤其是体积较大的电子设备如功放等在常温环境下进行老化,节约了大量建设高温老化房的成本及对高温老化房进行加热的电能等资源,为电子设备的大批量生产及投入运营奠定了良好的基础,而且本发明还可以方便的对老化过程中的功放进行实时监测,避免了无效的老化过程;本发明实现方法简单、实现过程灵活;从而实现了简化电子设备的老化方法、提高电子设备的老化效率、降低电子设备的生产成本的目的。 |
申请公布号 |
CN1755381A |
申请公布日期 |
2006.04.05 |
申请号 |
CN200410084825.2 |
申请日期 |
2004.09.30 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
殷为民;张孝铁;金宇 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
北京凯特来知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郑立明 |
主权项 |
1、一种基于散热装置的电子设备的老化方法,其特征在于包括:使电子设备在常温环境下处于工作状态,控制电子设备的散热装置,对电子设备进行老化。 |
地址 |
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |