测试模拟器、测试模拟程式以及记录媒体

摘要

本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置之既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中之新的测试图样；测试图样判断组件，其判断”新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同之情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，藉由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部。