| 主权项 |
1.一种发射器I/Q失配校正方法,包括下列步骤: 启始参数Ap、Bp与p; 估计一回路延迟因子L; 产生一测试信号x[n]=x(n.Ts),其中x(t)=ejTt,为 一预设角频率,而s为预设取样间隔; 以使用参数Ap、Bp与p之一第一函数补偿上述测 试信号x[n]而得到一补偿信号xcom[n]; 转换上述补偿信号xcom[n]至一类比信号xcom(t); 对上述类比信号xcom(t)执行I/Q调变以产生一调变信 号xmod(t); 取得上述调变信号xmod(t)之一特性信号xc(t); 取样上述特性信号xc(t)以取得一取样特性信号xs[n] ,并得到取样特性信号xs[n]之统计値U1与U2,其中上 述统计値U1与U2分别代表上述特性信号xc(t)于角速 度T与2T之频率响应;以及 分别根据复数第二函数之一者、上述回路延迟因 子L、上述统计値U1与U2、以及上述参数Ap、Bp与p 之目前値更新上述参数Ap、Bp与p。 2.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中估计上述回路延迟因子L之步骤包括: 产生一测试信号x'[n]=cos(TnTs)+T,其中上述测试 信号 [n]为一离散时间信号,而为一既定値; 转换上述测试信号 [n]至一类比信号 (t); 对上述类比信号 (t)执行I/Q调变以产生一调变信号 x'mod(t); 取得上述调变信号x'mod(t)之一特性信号x'c(t); 取样上述特性信号x'c(t)以取得一取样特性信号x's[ n],并得到取样特性信号x's[n]之统计値V,其中上述 统计値V代表上述特性信号x'c(t)于角速度T之频 率响应;以及 根据上述统计値V估计上述回路延迟因子L。 3.如申请专利范围第2项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述统计値V系藉由对上述取样特性信 号x's[n]执行快速傅立叶转换而得。 4.如申请专利范围第3项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述回路延迟因子L为V/∣V∣。 5.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述第一函数为xcom[n]=Ap.x[n]+Bp.x*[n]-p 。 6.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述统计値U1与U2系藉由对上述取样特 性信号 s[n]执行快速傅立叶转换而得。 7.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述参数Ap、Bp与p之更新包括下列步 骤: 根据参数Ap与Bp之目前値、回路延迟因子L与统计 値U2而计算更新之参数Ap; 根据参数Ap与Bp之目前値、回路延迟因子L与统计 値U2而计算更新之参数Bp;以及 根据参数p之目前値、回路延迟因子L与统计値U1 而计算更新之参数p。 8.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中更新上述参数Ap、Bp与p之上述第二函 数为: A'p=Ap-.Bp.U*2.L.L; B'p=Bp-.Ap.U2.(L.L)*;以及 'p=p+.U1.L*; 其中,A'p、B'p与'p为更新后之値,Ap、Bp与p为目 前値,而为预设之步骤尺寸参数。 9.如申请专利范围第1项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述特性信号系藉由取得上述调变信号 之平方而得。 10.如申请专利范围第2项所述之发射器I/Q失配校正 方法,其中上述特性信号系藉由取得上述调变信号 之平方而得。 11.一种发射器I/Q失配校正装置,包括: 一离散时间信号产生器,用以于一估算阶段产生一 第一测试信号x1[n]=cos(TnTs)+T,其中为一预 设角频率,s为预设取样间隔,而为一预设値, 并于上述估算阶段之后之一校正阶段产生一第二 测试信号x2[n]=ejTnTs; 一校正模组,用以接收上述离散时间信号产生器所 输出之测试信号,并执行使用参数Ap、Bp与p之一 第一函数补偿上述测试信号而得到一补偿信号; 一第一与第二数位/类比转换器,用以转换上述补 偿信号至一类比信号,其中上述第一数位/类比转 换器转换上述补偿信号之实部成分至上述类比信 号之实部成分,而上述第二数位/类比转换器转换 上述补偿信号之虚部成分至上述类比信号之虚部 成分; 一调变器,用以对上述类比信号执行I/Q调变以产生 一调变信号; 一侦测器,用以取得上述调变信号之一特性信号; 一类比/数位转换器,用以转换上述特性信号至一 取样特性信号;以及 一处理器,用以执行下列步骤: 启始参数Ap、Bp与p; 根据上述取样特性信号取得一统计値V,其中上述 统计値V代表上述特性信号于上述估算阶段于角速 度T之频率响应; 根据于上述估算阶段之上述统计値V估计一回路延 迟因子L; 根据上述校正阶段之取样特性信号取得统计値U1 与U2,其中上述统计値U1与U2分别代表上述特性信号 xc(t)于上述校正阶段于角速度T与2T之频率响 应;以及 于上述校正阶段,根据上述回路延迟因子L、上述 统计値U1与U2、以及上述参数Ap、Bp与p之目前値 更新上述参数Ap、Bp与p。 12.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述统计値V系藉由对上述取样特性 信号x's[n]执行快速傅立叶转换而得。 13.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述回路延迟因子L为V/∣V∣。 14.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述第一函数为xcom[n]=Ap.x[n]+Bp.x*[n]- p,其中x[n]为测试信号,xcom[n]为补偿信号xcom[n],而 测试信号x[n]为于上述估算阶段之x1[n],以及于上述 校正阶段之x2[n]。 15.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述统计値U1与U2系于校正阶段,藉由 对上述取样特性信号执行快速傅立叶转换而得。 16.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述参数Ap、Bp与p之更新包括下列 步骤: 根据参数Ap与Bp之目前値、回路延迟因子L与统计 値U2而计算更新之参数Ap; 根据参数Ap与Bp之目前値、回路延迟因子L与统计 値U2而计算更新之参数Bp;以及 根据参数p之目前値、回路延迟因子L与统计値U1 而计算更新之参数p。 17.如申请专利范围第16项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述处理器更新上述参数Ap、Bp与p 之函数为: A'p=Ap-.Bp.U*2.L.L; B'p=Bp-.Ap.U2.(L.L)*;以及 'p=p+.U1.L*; 其中,A'p、B'p与'p为更新后之値,Ap、Bp与p为目 前値,而为预设之步骤尺寸参数。 18.如申请专利范围第11项所述之发射器I/Q失配校 正装置,其中上述特性信号系藉由取得上述调变信 号之平方绝对値而得。 图式简单说明: 第1图系显示传统受控于失配预估器之相位调变器 。 第2A图与第2B图系显示根据本发明实施例之OFDM系 统之I/Q失配调校方法之流程图。 第3图系显示一般IEEE 802.11标准之无线LAN模组之示 意图。 第4图系显示根据本发明实施例所述之I/Q失配调校 装置。 |
