半导体光检测器

摘要

本发明系关于一种半导体光检测器之结构，其包括：一基板，系一具有电气线路之结构，并在表面处至少形成一第一金属层以及一第二金属层，且第一金属层以及第二金属层系电气连接至该基板电气线路之对应电气讯号输出入节点；以及一光检测元件，系一半导体光检测元件，其底端接着于该基板上，且该光检测元件系透过顶端接收入射光源。