发明名称 | 蚀刻制程以及图案化制程 | ||
摘要 | 一种蚀刻制程,其系首先提供一材料层,且材料层上已形成有一底部抗反射层以及一图案化光阻层。接着,以图案化光阻层为蚀刻罩幕,蚀刻底部抗反射层。然后,进行一清洁步骤,以清除附着在图案化光阻层表面上的聚合物。之后,以图案化光阻层为蚀刻罩幕,蚀刻材料层。 | ||
申请公布号 | TW200611326 | 申请公布日期 | 2006.04.01 |
申请号 | TW093129540 | 申请日期 | 2004.09.30 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 周佩玉 |
分类号 | H01L21/302;G03F7/09 | 主分类号 | H01L21/302 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |