| 主权项 |
1.一种PCB板测试设备10,其包含一探针卡分析仪20和 一PCB板测试机构30;其中该探针卡分析仪20包含一 测试机台23、一检验板21、一导电座检验端22、和 一测试导线24;该PCB板测试机构30,包括: 一PCB板31,为一待测物,其上具有孔洞33和一贯孔导 体32; 一转接机构40,包含: 一载板42,具有一上表面42A和一下表面42B,且该上表 面42A上具有复数个具导电特性之针脚43;及 一探针组44,包含复数个探针441和一用来固定该复 数个探针之转接板442,该探针组44设置于该载板42 之该下表面42B上,且该复数个探针441系藉该转接板 442之固定,并穿过该载板42而与该复数个针脚43呈 电性连接;以及 复数个接合元件41,其一端固接于该载板42上,而另 一端则穿过该PCB板31上之该孔洞33而固接于该待测 之PCB板31上。 2.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其中该载板42上之复数个针脚43为具弹性并可伸 缩之构造。 3.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其中该载板42可为一PCB板之结构。 4.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其可用来执行选自一开路测试档案、一短路测 试档案、一线路阻抗、及一PCB板内部绕线漏电流 测试档案所组成之族群中之一测试档案。 5.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测如6英寸、8英寸等不同尺寸大小之待 测PCB板31。 6.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测如圆形、方形等不同形状之待测PCB板 31。 7.如申请专利范围第1项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测不同电路布局之待测PCB板31。 8.一种PCB板测试设备10,其包含一探针卡分析仪20和 一PCB板测试机构30;其中该探针卡分析仪20包含一 测试机台23、一检验板21、一导电座检验端22、和 一测试导线24;而该PCB板测试机构30包括: 一PCB板31,为一待测物,其具有孔洞33和一贯孔导体 32; 一转接机构40,其包含: 一载板42,具有一上表面42A和一下表面42B,该上表面 42A上装设有复数个具导电特性之针脚43,且该下表 面42B上装设有复数个探针441与该复数个针脚43呈 电性连接;及 复数个接合元件41,其一端固接于该载板42上,而另 一端则穿过该PCB板31上之该孔洞33而固接于该待测 之PCB板31上。 9.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其中该载板42可用一转接板442加以取代。 10.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其中该载板42上之复数个针脚43为具弹性并可伸 缩之构造。 11.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其中该载板42可为一PCB板之结构。 12.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其可用来执行选自一开路测试档案、一短路测 试档案、一线路阻抗、及一PCB板内部绕线漏电流 测试档案所组成之族群中之一测试档案。 13.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测如6英寸、8英寸等不同尺寸大小之待 测PCB板31。 14.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测如圆形、方形等不同形状之待测PCB板 31。 15.如申请专利范围第8项所述之一种PCB板测试设备 10,其可量测不同电路布局之待测PCB板31。 图式简单说明: 第1图为本发明之测试设备10中之转接机构40之示 意图。 第2图为本发明之测试设备10之整体架构示意图。 |
