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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen einer Halbleiterspeichervorrichtung, wobei die Halbleiterspeichervorrichtung in einem Normal-Betriebsmodus und einem Testmodus betreibbar ist, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt: DOLLAR A - Übermitteln von für einen Test zu verwendenden Testeingangsdaten an die Halbleiterspeichervorrichtung; DOLLAR A - Speichern der Testeingangsdaten in Speicherzellen eines Speicherbereichs (Mem1) der Halbleiterspeichervorrichtung DOLLAR A und DOLLAR A - Auslesen der gespeicherten Testeingangsdaten aus den Speicherzellen zum Durchführen eines Tests, um Testausgangsdaten zu erhalten, DOLLAR A wobei der Speicherbereich (Mem 1), in welchem die Testeingangsdaten in dem Testmodus gespeichert werden, in dem Normal-Betriebsmodus zum Speichern von Daten verwendet wird. DOLLAR A Ferner betrifft die Erfindung eine Halbleiterspeichervorrichtung und ein System zum Testen einer Halbleiterspeichervorrichtung.
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