发明名称 |
Integrierte Schaltung, Halbleiterspeicherbauelement und Betriebsverfahren |
摘要 |
Die Erfindung bezieht sich auf eine integrierte Schaltung mit einem ersten und einem zweiten Chip (100) und einer gemeinsamen Eingabe-/Ausgabekontaktstelle (11), die elektrisch mit dem ersten und zweiten Chip (100) gekoppelt ist, sowie auf ein Halbleiterspeicherbauelement und Betriebsverfahren für eine integrierte Schaltung und für ein Halbleiterspeicherbauelement. DOLLAR A Erfindungsgemäß umfasst der erste und/oder der zweite Chip einen Spannungsgenerator (130) für hohe Spannung, welcher ausgeführt ist, um über die gemeinsame Eingabe-/Ausgabekontaktstelle eine Eingabespannung (/WE) zu empfangen und in Reaktion auf ein Testmodussignal (TM) während eines Testmodus eine Testspannung (VTWL) zu erzeugen, deren Pegel höher als der Pegel der Eingabespannung ist. DOLLAR A Verwendung z. B. für Mehrchippackungen mit Halbleiterspeicherchips. |
申请公布号 |
DE102005045664(A1) |
申请公布日期 |
2006.03.30 |
申请号 |
DE20051045664 |
申请日期 |
2005.09.13 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
HAN, SANG-JIB;LEE, CHANG-HWAN |
分类号 |
G11C16/30 |
主分类号 |
G11C16/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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