发明名称 Integrierte Schaltung, Halbleiterspeicherbauelement und Betriebsverfahren
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine integrierte Schaltung mit einem ersten und einem zweiten Chip (100) und einer gemeinsamen Eingabe-/Ausgabekontaktstelle (11), die elektrisch mit dem ersten und zweiten Chip (100) gekoppelt ist, sowie auf ein Halbleiterspeicherbauelement und Betriebsverfahren für eine integrierte Schaltung und für ein Halbleiterspeicherbauelement. DOLLAR A Erfindungsgemäß umfasst der erste und/oder der zweite Chip einen Spannungsgenerator (130) für hohe Spannung, welcher ausgeführt ist, um über die gemeinsame Eingabe-/Ausgabekontaktstelle eine Eingabespannung (/WE) zu empfangen und in Reaktion auf ein Testmodussignal (TM) während eines Testmodus eine Testspannung (VTWL) zu erzeugen, deren Pegel höher als der Pegel der Eingabespannung ist. DOLLAR A Verwendung z. B. für Mehrchippackungen mit Halbleiterspeicherchips.
申请公布号 DE102005045664(A1) 申请公布日期 2006.03.30
申请号 DE20051045664 申请日期 2005.09.13
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 HAN, SANG-JIB;LEE, CHANG-HWAN
分类号 G11C16/30 主分类号 G11C16/30
代理机构 代理人
主权项
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