发明名称 Anordnung und Verfahren zur Charakterisierung der Strahlungsquelle von Analysegeräten
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Charakterisierung der Strahlungsquellen (5.1, 5.2, 5.3) in einem Analysegerät (1). Den Strahlungsquellen (5.1, 5.2, 5.3) sind Datenspeicher zugeordnet, die mit einer Schreib-/Leseeinheit (11) kommunizierend in Verbindung stehen, wobei zwischen dem Datenspeicher und der Schreib-/Leseeinheit (11) Daten ausgetauscht werden, die sowohl die Identifikation der jeweiligen Strahlungsquelle (5.1, 5.2, 53.) als auch Vorgaben für deren Ansteuerung betreffen. DOLLAR A Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf ein entsprechendes Verfahren zur Charakterisierung von Strahlungsquellen (5.1, 5.2, 5.3) innerhalb eines Analysegerätes (1) anhand von jeder Strahlungsquelle (5.1, 5.2, 5.3) zugeordneten Datenspeichern, wobei die gespeicherten Daten in Abhängigkeit vor der Benutzung und dem Einsatz der jeweiligen Strahlungsquelle (5.1, 5.2, 5.3) in zeitlichen Abständen aktualisiert werden.
申请公布号 DE102004039245(A1) 申请公布日期 2006.03.30
申请号 DE200410039245 申请日期 2004.08.10
申请人 ANALYTIK JENA AG 发明人 THAMM, EIKE;SCHLEMMER, GERHARD
分类号 G01J3/42;G01J3/28 主分类号 G01J3/42
代理机构 代理人
主权项
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