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发明名称 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM SICHEREN SCAN-TESTEN
摘要
申请公布号 DE60303126(D1) 申请公布日期 2006.03.30
申请号 DE20036003126 申请日期 2003.04.14
申请人 FREESCALE SEMICONDUCTORS, INC. 发明人 TKACIK, THOMAS;SPITTAL, E.;LUTZ, JONATHAN;CASE, LAWRENCE;HARDY, DOUGLAS;REDMAN, MARK;SCHMIDT, GREGORY;TUGENBERG, STEVEN;FITZSIMMONS, D.;CARDER, L.
分类号 G01R31/3185;G01R31/317;G06F1/00;G06F21/00 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
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