校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备

摘要

一种校核当盘记录和再现设备进行清除存在于测试盘上的缺陷管理区中的预定缺陷列表而没有认证的重新初始化时正常生成或更新DMA信息的方法测试设备。包括：在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表的重初始化，并从重初始化后生成的DMA信息生成测试信息；将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息比较提供测试信息校核结果。因此用户可短时间内校核给定盘记录和再现设备在重初始化模式中正确生成或更新DMA信息。

主权项

1.一种校核将信息记录在带有缺陷管理区信息的盘上或从带有缺陷管理区信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区信息生成和更新功能的方法，其中缺陷管理区即DMA，该方法包括：利用含有测试基准信息的测试盘在记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，并从重新初始化后生成的DMA信息中生成测试信息；和将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供测试信息的校核结果，其中，进行重新初始化包括对测试盘进行没有认证的重新初始化，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是镜像文件，其中，测试信息是镜像文件，其中，相比较包括：校核测试信息中DMA的结构；校核测试信息的盘定义结构，其中盘定义结构即DDS；校核测试信息的主要缺陷列表，其中主要缺陷列表即PDL；和校核测试信息的次要缺陷列表，其中次要缺陷列表即SDL。