发明名称 |
马赫曾德尔型光调制器的半波长电压测定方法 |
摘要 |
提供一种可以精密、并且不依赖于光调制器的偏置变动的情况下测定马赫曾德尔型光调制器的半波长电压的方法及其装置。在将被测频率的高频AC信号(34)和检测用低频AC信号(35)叠加后向马赫曾德尔型光调制器(1)施加,或者将两者分别向另外分别构成的电极施加,通过观测光调制器的输出光的低速响应测定马赫曾德尔型光调制器的半波长电压的方法中,让该高频AC信号(34)的电压振幅可变,采用根据该检测用低频AC信号让输出光的强度变化大致为0时的该高频AC信号(34)的电压振幅,测定马赫曾德尔型光调制器(1)的被测频率中的半波长电压。 |
申请公布号 |
CN1247976C |
申请公布日期 |
2006.03.29 |
申请号 |
CN02815480.0 |
申请日期 |
2002.07.31 |
申请人 |
住友大阪水泥股份有限公司 |
发明人 |
宫崎德一;清水亮 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01);G02F1/035(2006.01);G02F1/225(2006.01) |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
1.一种马赫曾德尔型光调制器的半波长电压测定方法,在将被测频率的高频AC信号与检测用低频AC信号叠加后施加在马赫曾德尔型光调制器上,或者分别将两者施加在分别构成的电极上,通过观测该光调制器的输出光的低速响应来测定马赫曾德尔型光调制器的半波长电压的方法中,其特征在于:让该高频AC信号的电压振幅可变,采用根据该检测用低频AC信号让输出光强度变化大致为零时的该高频AC信号的电压振幅,测定马赫曾德尔型光调制器的被测频率中的半波长电压。 |
地址 |
日本东京 |