检验光盘的缺陷管理区信息的方法和执行该方法的装置

摘要

一种检验可记录和可再现光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法和执行该方法的测试装置。该方法包括：选择多个测试模式中的一种和按照所选模式设定测试基准；按照所选模式从由该装置产生或更新的DMA信息产生测试信息；和使用测试基准检验测试信息。因此可采用不同测试盘容易地检验记录和再现装置是否适当解释和处理缺陷信息，该测试盘是根据DMA信息检验测试模式，使用带有与盘上的实际缺陷无关的预定缺陷信息的镜像文件制造的。

主权项

1、一种检验在将信息记录到具有缺陷管理区信息的光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置中、缺陷管理区信息是否被适当产生或更新的方法，其中缺陷管理区即DMA，该方法包括：选择用于检验DMA信息的多个测试模式中的一种和按照选择的检验测试模式设定测试基准；按照选择的检验测试模式，从由记录和再现装置产生和更新的DMA信息产生测试信息，其中，所述测试信息是DMA镜像文件；使用在选择检验测试模式中的测试基准，执行检验测试信息的测试；和显示所述执行测试的结果，其中，所述测试信息直接从用于测试的盘上的DMA区读出，其中，检验所述DMA信息的多个测试模式是：第一检验测试模式，根据带有光盘验证的初始化和没有光盘验证的初始化，测试DMA信息的产生；第二检验测试模式，根据带有验证的重新初始化、带有表转换的重新初始化或带有光盘的缺陷表清除的重新初始化，测试DMA信息的产生或更新；第三检验测试模式，用于检验光盘的辅助备用区的扩展；第四检验测试模式，用于检验根据错误DMA信息执行在光盘上的记录，其中该方法还包括：通过在空白盘上形成已知的物理缺陷获得第一测试盘，并且在第一检验测试模式中，在产生测试信息中使用所述第一测试盘。