METHOD FOR TESTING MEMORY MODULE AND HUB OF MEMORY MODULE FOR THE SAME,申请号KR20040075920-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR TESTING MEMORY MODULE AND HUB OF MEMORY MODULE FOR THE SAME
摘要
申请公布号	KR20060027089(A)	申请公布日期	2006.03.27
申请号	KR20040075920	申请日期	2004.09.22
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	SHIN, SEUNG MAN;SO, BYUNG SE;SEO, SEUNG JIN;SHIN, HUI CHONG
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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