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Vorrichtung (21) zur quantifizierten Bewertung von Oberflächeneigenschaften mit einer ersten Strahlungseinrichtung (23), welche unter einem ersten vorgegebenen Winkel gegenüber einer zu untersuchenden Oberfläche (1) angeordnet ist und Strahlung auf die zu untersuchende Oberfläche (1) richtet, wobei die auf die Oberfläche (1) gerichtete Strahlung wenigstens eine Komponente mit Wellenlängen im infraroten Bereich aufweist, einer unter einem zweiten vorgegebenen Winkel gegenüber der zu untersuchenden Oberfläche angeordnete Detektionseinrichtung (24), welche die auf die Oberfläche eingestrahlte und von dieser zurückgeworfene Strahlung detektiert.
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