发明名称 | 光学拾波装置 | ||
摘要 | 提供了一种光学拾波装置,用来检测对称的S型信号,用一种为了操作的稳定性的SSD方法获得聚焦误差信号。光学拾波装置向光学记录介质照射激光,并将至少由光学记录介质反射的光经过衍射元件导向光接收器件区,用衍射元件产生的衍射光按照光斑尺寸检测方法来检测聚焦误差信号,在这样的光学装置中,光接收器件区的位置从直通过衍射元件的0阶光的焦点位置向更靠近衍射元件偏移。 | ||
申请公布号 | CN1246844C | 申请公布日期 | 2006.03.22 |
申请号 | CN02805199.8 | 申请日期 | 2002.12.18 |
申请人 | 索尼株式会社 | 发明人 | 小林高志 |
分类号 | G11B7/09(2006.01) | 主分类号 | G11B7/09(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 李家麟 |
主权项 | 1.一种光学拾波装置,用来将激光照射到一光学记录介质上,并将至少由所述光学记录介质反射的光经过一衍射元件引导到一光接收部件,以便用所述衍射元件所产生的+1阶和-1阶衍射光,通过光斑尺寸检测方法,来检测聚焦误差信号,其中所述光接收部件的位置比直通过所述衍射元件的0阶光的焦点位置更靠近所述衍射元件。 | ||
地址 | 日本东京 |