发明名称 | 光盘驱动器机壳结构安全性测试的方法及其使用的测试用光盘片 | ||
摘要 | 一种测试光盘驱动器机壳结构安全性的方法,是在所使用的测试用光盘片上制作三个径向裂纹,而各裂纹间的夹角为120度。将此测试用光盘片放入待测的光盘驱动器后,启动光盘驱动器使测试用光盘片以预设的转速旋转,造成光盘片径向裂纹成长而产生裂片撞击光盘驱动器机壳。随后,再检视光盘驱动器机壳承受到的撞击状态。 | ||
申请公布号 | CN1749731A | 申请公布日期 | 2006.03.22 |
申请号 | CN200410078758.3 | 申请日期 | 2004.09.16 |
申请人 | 华硕电脑股份有限公司 | 发明人 | 方昭清 |
分类号 | G01N3/00(2006.01);G11B33/00(2006.01) | 主分类号 | G01N3/00(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 任永武 |
主权项 | 1.一种光盘片,用于光盘片高速旋转的爆片测试,该光盘片制作有三个径向裂纹,各裂纹间的夹角是介于100度与140度之间,借以使旋转破碎后的裂片具有最大的动量。 | ||
地址 | 台湾省台北市北投区立德路150号4楼 |