发明名称 光学丈量装置
摘要 一种光学丈量装置,尤指提供以投射之方式使刻度直接以映划在量测物的表面,达成远端丈量,和利便曲面物体之左右直线相对点距离长度量测之光学虚拟丈量装置,其主要系由一光学发生器,经由影像生成光学,投射分布映划刻度在被量测物之表面。
申请公布号 TWI251660 申请公布日期 2006.03.21
申请号 TW092127876 申请日期 2003.10.07
申请人 浦建华 发明人 浦建华
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人 郑再钦 台北市中山区民生东路3段21号10楼
主权项 1.一种光学丈量装置,系一机体上设置一转台,该转 台一端载置一由步进驱动器所驱动之调变转盘,转 台上并有一对应到调变转盘转动角位之角度规,且 调变转盘上设有一可将入射光形成刻度标之刻度 标发生器为其主要特征。 2.如申请专利范围第1项所述之光学丈量装置,其中 该机体下方垂直角位处进一步设有一直性线标生 成器。 3.如申请专利范围第1或2项所述之光学丈量装置, 其中该调变转盘上之刻度标发生器与机体下方之 直性线标生成器得设置在同一垂直线上或不同垂 直线上。 4.如申请专利范围第3项所述之光学丈量装置,其中 该刻度标发生器和直性线标生成器之间设有一雷 射激光发生器。 5.如申请专利范围第4项所述之光学丈量装置,其中 该雷射激光发生器上设有一分光镜,分光镜的一端 设置柱面镜,以将光束转换为扁平光后射向刻度标 发生器,其另一端设置扩展装置,以将光束射向直 性线标生成器。 6.如申请专利范围第5项所述之光学丈量装置,其中 该直性线标生成器,系使用锥形反射器。 7.如申请专利范围第5项所述之光学丈量装置,其中 该直性线标生成器,系使用偏摆反射器。 8.如申请专利范围第5项所述之光学丈量装置,其中 该直性线标生成器,系使用柱面镜。 9.如申请专利范围第5项所述之光学丈量装置,其中 该刻度标发生器,系使用多角面反射器经由步进驱 动装置依据反射分布。 10.如申请专利范围第5项所述之光学丈量装置,其 中该刻度标发生器,系使用梯形棱镜经由步进驱动 装置作角位调变分布投射。 11.如申请专利范围第1项所述之光学丈量装置,其 中该刻度标发生器,系使用柱面镜。 12.如申请专利范围第1项所述之光学丈量装置,其 中该步进驱动装置,系经由电栅开关依据投射角位 的变换,作循序性的开关时机调变。 图式简单说明: 第1图为本发明光学丈量基本实施示意图。 第1-a图为刻度说明示意图。 第2图系为本发明利用电子刻度显像实施示意图。 第3-a图系为本发明利用影像再度模拟仿真刻度实 施图之一。 第3-b图系为本发明利用影像再度模拟仿真刻度实 施图之二。 第4-a图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之一。 第4-b图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之二。 第4-c图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之三。 第4-d图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之四。 第4-e图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之五。 第4-f图系为本发明线标形成利用锥形反射器实施 图之六。 第5图系为本发明利用柱面转换器转换刻度标之实 施示意图。 第6-a图系为本发明利用多角面反射镜藉由驱动装 置扫描出排状刻度之实施示意图。 第6-b图系为第6-a图之电信开关图示。 第7图为本发明可同步显示刻度实施图之一。 第8图为本发明可同步显示刻度实施图之二。 第9图为本发明可同步显示刻度实施图之三。 第10图为本发明可同步显示刻度实施图之四。 第11图为本发明可同步显示刻度实施图之五。
地址 荷兰