| 主权项 |
1.一种记忆体测试装置,供至少一记忆体封装体可 分离地电性连接,该记忆体测试装置包括: 一基座; 一测试单元,该测试单元系设置于上述基座中,且 该测试单元系至少包含有一第一电路板,一活动插 接于该第一电路板上之第二电路板,并于该第二电 路板上设置有多数插座;以及 一连动单元,该连动单元至少包含一设置于基座内 之固定座,该固定座之一端系活动设置有一摇杆, 一设于基座底部并与摇杆连接之移动件,该移动件 之底面系至少具有一滑动块,至少一与移动件连接 且一端设置于滑动块上之连杆,该连杆与滑动块接 触之一端设有一可活动之滚轮,一设于基座端面且 与连杆连接之压掣件,而该压掣件系具有与多数插 座对应之开孔。 2.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试装置,其 中该压掣件系呈一盖体状,并具有与多数插座对应 之开孔。 3.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试装置,其 中该插座可藉由一转接座与第二电路板连接。 4.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试装置,其 中该滑动块上系具有可供与连杆一端接触滑动之 平面部与斜面部。 5.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试装置,其 中该插座至少包含有一设有复数端子之本体,一设 置于本体上可上、下移动之活动座,使该活动座位 于上方位置时系连动各端子成闭合状态,而该活动 座位于下方位置时则连动各端子以使其形成开启 状态。 6.一种记忆体测试机,系供复数记忆体封装体可分 离地电性连接,该记忆体测试机包括: 一工作平台; 一以上之基座,各基座系活动设置于上述工作平台 上; 一以上之测试单元,各测试单元系设置于上述基座 中,且该测试单元系至少包含有一第一电路板,一 活动插接于该第一电路板上之第二电路板,并于该 第二电路板上设置有多数插座;以及 一以上之连动单元,各连动单元至少包含一设置于 基座内之固定座,该固定座之一端系活动设置有一 摇杆,一设于基座底部并与摇杆连接之移动件,该 移动件之底面系至少具有一滑动块,至少一与移动 件连接且一端设置于滑动块上之连杆,该连杆与滑 动块接触之一端设有一可活动之滚轮,一设于基座 端面且与连杆连接之压掣件,而该压掣件系具有与 多数插座对应之开孔。 7.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试装置,其 中该压掣件系呈一盖体状,并具有与多数插座对应 之开孔。 8.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试装置,其 中该插座可藉由一转接座与第二电路板连接。 9.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试装置,其 中该滑动块上系具有可供与连杆一端接触滑动之 平面部与斜面部。 10.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试装置, 其中该插座至少包含有一设有复数端子之本体,一 设置于本体上可上、下移动之活动座,使该活动座 位于上方位置时系连动各端子成开合状态,而该活 动座位于下方位置时则连动各端子以使其形成开 启状态。 11.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试机,该 工作平台上系其更包括有一通风管道,该通风管道 系与该等记忆体测试装置连通以将其产生之热排 出。 12.如申请专利范围第6项所述之记忆体测试机,其 中该记忆体测试装置更包含一与第一电路板电性 连接以显示出测试资讯之显示单元。 图式简单说明: 第一图系本创作记忆体测试装置之立体图。 第二图系本创作记忆体测试装置之分解图。 第三图系本创作记忆体测试装置之侧视图。 第四图系本创作记忆体测试装置之动作示意图。 第五图系本创作记忆体测试机立体图。 第六图系本创作记忆体测试机之另一角度立体图 。 第七图系本创作记忆体测试装置之设置状态图。 |
