发明名称 改善扫描模组抖动的方法以及判断扫描模组抖动来源的方法
摘要 一种改善扫描模组抖动的方法以及判断扫描模组抖动来源的方法,包括:量测扫描模组的一横向抖动向量以及量测扫描模组沿着一倾斜角度的一斜向抖动向量。计算扫描模组的一纵向抖动值、倾斜角度以及一纵向/横向抖动比值。藉由上述扫描模组的纵向抖动值、倾斜角度以及纵向/向抖动比值来判断抖动来源。当抖动来源主要为横向抖动向量时,针对横向抖动来源进行调整,其中横向抖动来源包括马达转距、皮带张力。反之,当抖动来源主要为纵向抖动向量时,针对纵向抖动来源进行调整,其中纵向抖动来源包括轴棒与轴套之间的摩擦力、轴棒的真直度、扫描模组行进轨道的平坦程度。
申请公布号 TWI252030 申请公布日期 2006.03.21
申请号 TW091125110 申请日期 2002.10.25
申请人 宇东科技股份有限公司 发明人 王国任;陈郑贵;余淳惠
分类号 H04N1/04 主分类号 H04N1/04
代理机构 代理人 李贵敏 台北市松山区敦化北路168号15楼
主权项 1.一种改善扫描模组抖动的方法,包括: 量测该扫描模组的一横向抖动向量; 量测该扫描模组沿着一倾斜角度的一斜向抖动向 量; 计算该扫描模组的一纵向抖动値、该倾斜角度以 及一纵向∕横向抖动比値; 藉由该纵向抖动値、该倾斜角度以及该纵向∕横 向抖动比値判断抖动来源; 当抖动来源主要为该横向抖动向量时,针对横向抖 动来源进行调整,该横向抖动来源包含马达转距、 皮带张力;以及 当抖动来源主要为该纵向抖动向量时,针对纵向抖 动来源进行调整,该纵向抖动来源包括轴棒与轴套 之间的摩擦力、轴棒的真直度、扫描模组行进轨 道的平坦程度。 2.如申请专利范围第1项所述之改善扫描模组抖动 的方法,其中该横向抖动向量的量测方法包括: 提供一纵向黑白条纹表; 令该扫描模组扫描该纵向黑白条纹表,以获得该横 向抖动向量;以及 计算黑条纹、白条纹其中之一的标准差。 3.如申请专利范围第1项所述之改善扫描模组抖动 的方法,其中该斜向抖动向量的量测方法包括: 提供一斜向黑白条纹表; 令该扫描模组扫描该斜向黑白条纹表,以获得该斜 向抖动向量;以及 计算黑条纹、白条纹其中之一的标准差。 4.一种判断扫描模组抖动来源的方法,包括: 量测该扫描模组的一横向抖动向量; 量测该扫描模组沿着一倾斜角度的一斜向抖动向 量; 计算该扫描模组的一纵向抖动値,该倾斜角度以及 一纵向∕横向抖动比値; 藉由该纵向抖动値、该倾斜角度以及该纵向∕横 向抖动比値判断抖动来源。 5.如申请专利范围第4项所述之判断扫描模组抖动 来源的方法,其中该横向抖动向量的量测方法包括 : 提供一纵向黑白条纹表; 令该扫描模组扫描该纵向黑白条纹表,以获得该横 向抖动向量;以及 计算黑条纹、白条纹其中之一的标准差。 6.如申请专利范围第4项所述之判断扫描模组抖动 来源的方法,其中该斜向抖动向量的量测方法包括 : 提供一斜向黑白条纹表; 令该扫描模组扫描该斜向黑白条纹表,以获得该斜 向抖动向量;以及计算黑条纹、白条纹其中之一的 标准差。 图式简单说明: 第1图绘示依照本发明一较实施例扫描模组扫描一 纵向黑白条纹表之示意图; 第2图绘示依照本发明一较实施例扫描模组扫描一 斜向黑白条纹表之示意图;以及 第3图绘示依照本发明一较实施例之藉由毕式定理 来计算纵向抖动値、斜向角度及纵向/横向抖动比 値。
地址 台北市松山区敦化北路168号14楼