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发明名称 STRUCTURE DE TEST POUR CIRCUIT INTEGRE
摘要
申请公布号 FR2864337(B1) 申请公布日期 2006.03.17
申请号 FR20030051179 申请日期 2003.12.23
申请人 STMICROELECTRONICS ROUSSET SAS;STMICROELECTRONICS SA;UNIVERSITE D'AIX MARSEILLE I 发明人 NEE DIDIER;FORLI LIONEL;BOROT BERTRAND;PORTAL JEAN MICHEL
分类号 H01L21/66;G11C29/24;G11C29/50;H01L23/544 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
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