| 摘要 |
<P>L'invention concerne un procédé de lecture de l'état d'un élément de mémorisation non volatile (4), consistant à conditionner la fréquence d'un premier oscillateur (1) à l'état de cet élément, et à comparer la fréquence du premier oscillateur à la fréquence prédéterminée d'un deuxième oscillateur (2), choisie pour être comprise entre deux valeurs possibles de fréquence du premier oscillateur selon l'état de l'élément de mémorisation</P> |
