发明名称 晶圆级堆叠多晶片之封装方法
摘要 本发明揭示一种晶圆级堆叠多晶片之封装方法,包括下列步骤:提供一晶片阵列,其包含复数个独立之第一晶片,系由第一晶圆切割而成;提供第二晶圆,其包含复数个尚未分离之第二晶片,且其晶片主动表面上具有一黏着层;从该第二晶圆之晶片主动表面预切该些第二晶片至一深度;以该第二晶圆之晶片主动表面朝该些第一晶片之晶片背面堆叠,使每一该些第二晶片仅与一个第一晶片堆叠。以及,从该第二晶圆之晶片背面进行薄化,以同时形成复数个单独分离之第二晶片堆叠在单独分离第一晶片上。
申请公布号 TW200610071 申请公布日期 2006.03.16
申请号 TW093127445 申请日期 2004.09.10
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陶恕
分类号 H01L21/56 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号