发明名称 内建自我测试锁相回路(Phase locked loops)之抖动( jitter)讯号电路装置及其方法
摘要 一种内建自我测试(BIST)锁相回路(PLL)之抖动(Jitter)讯号电路装置及其方法,用以解决测试锁相回路之抖动讯号时所遭遇之高频讯号不易处理与测试的问题。该内建自我测试锁相回路之抖动讯号电路装置,系包含:一锁相回路单元电性连接一降频单元,该降频单元电性连接一讯号转换单元,另一讯号运算单元电性连接该讯号转换单元,提供一输入讯号至该锁相回路单元使其运作后,由该讯号转换单元输出一自测输出讯号,该自测输出讯号可呈现该锁相回路单元之抖动讯号发生情形。本发明目的系为降低测试锁相回路之抖动讯号时所遭遇之高频讯号。
申请公布号 TW200610274 申请公布日期 2006.03.16
申请号 TW093127586 申请日期 2004.09.10
申请人 扬智科技股份有限公司 发明人 陈昱辰
分类号 H03L7/08 主分类号 H03L7/08
代理机构 代理人 谢宗颖;王云平
主权项
地址 台北市内湖区内湖路1段246号2楼