| 摘要 |
一种易于将不同规格尺寸IC置入测试套座之装置及方法(一)，其系于具有浮动机构之取放头底面装设一基板，该基板底面向下凸设一可与测试套座框架外侧对位之第一导位机构，另于取放头与基板上设有一贯通孔，以供穿设一吸嘴，其中该吸嘴之底面连结一可供IC对位之第二导位机构，而利用第二导位机构自下方将IC吸取定位，并移置于测试套座时，以第二导位机构对位于测试套座内，而将IC准确置入于对应位置；藉此，利用该可准确对位之装置，于不同规格之IC使用时，可于吸嘴上直接更换第二导位机构，进而可易于搭配各种规格之IC使用，且达到精准对位之目的。 |
