发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 本发明之手段系藉由提供一种半导体制造方法,包含以下步骤:在金属层之上,设置一钝化层;在该钝化层之上设置一介电层;在该介电层上设置一反反射层;进行蚀刻以及自我对准以产生一沟道;在该反反射层上沈积第一阻障层;藉由一 气而溅射该沟道;以及沈积第二阻障层于溅射后之沟道。
申请公布号 TW200610093 申请公布日期 2006.03.16
申请号 TW093127013 申请日期 2004.09.07
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 SEMICONDUCTORMANUFACTURING INTERNATIONAL (SHANGHAI) CORP. 中国 发明人 姜庆堂;周华
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 中国