| 发明名称 | 光学检测装置以及使用该装置的多通道试样分析器 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种能够利用光学检测器以不同波长高速测量多通道试样的光学检测装置以及一种使用该光学检测装置的多通道试样分析器。该光学检测装置包括一光学检测器；一具有彼此连接成盘状的至少两个滤色镜的滤光轮；多个光学通道，多个光束通过该多个光学通道进入所述滤光轮；以及一反射镜单元，其包括多个反射镜，用于顺序地将透过该滤光轮的多个光束反射到所述光学检测器，其中所述反射镜单元与所述滤光轮一起旋转。 | ||
| 申请公布号 | CN1746659A | 申请公布日期 | 2006.03.15 |
| 申请号 | CN200510099239.X | 申请日期 | 2005.09.07 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 玉景植;金珍泰;吴光昱;金相孝 |
| 分类号 | G01N21/25(2006.01);G01N21/01(2006.01);G01N21/64(2006.01) | 主分类号 | G01N21/25(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马高平;杨梧 |
| 主权项 | 1.一种用于多通道多色测量的光学检测装置，其包括：一光学检测器；一具有彼此连接成盘状的至少两个滤色镜的滤光轮；多个光学通道，多个光束通过该多个光学通道进入所述滤光轮；以及一反射镜单元，其包括多个反射镜，所述多个反射镜顺序地将透过所述滤光轮的多个光束反射到所述光学检测器，其中所述反射镜单元与所述滤光轮一起旋转。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||