发明名称 氮氧化矽层之制造方法
摘要 一种氮氧化矽层之制造方法,应用于多晶矽薄膜电晶体的制程,其方法为先以电浆辅助化学气相沈积方式形成氧化矽层再接续对氧化矽层施以电浆氮化处理,如此可在单一设备中完成多晶矽薄膜电晶体的制造,有效降低制造成本与节省多晶矽薄膜电晶体之整体制程时间。
申请公布号 TWI251277 申请公布日期 2006.03.11
申请号 TW093141624 申请日期 2004.12.31
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 周麟恩;丁宏哲
分类号 H01L21/318 主分类号 H01L21/318
代理机构 代理人
主权项 1.一种氮氧化矽层之制造方法,系应用于一多晶矽 薄膜电晶体的制程,其步骤包括: 提供一电浆辅助化学气相沉积系统,其包含一腔体 及一电浆激发源; 提供一基板,设置于该腔体; 以电浆辅助化学气相沉积方法于该基板表面形成 一氧化矽层; 于腔体通入一含氧气体; 以该电浆激发源激发该含氮气体形成电浆;及 对该氧化矽层施以一含氮电浆处理以形成一氮氧 化矽层。 2.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该基板系为玻璃基板。 3.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该含氮气体系选自一氧化二氮(N2O)或氨 气(NH3)所组成的族群其中之一。 4.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该氮氧化矽层系作为该多晶矽薄膜电晶 体之闸极绝缘层。 5.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该氮氧化矽层系作为该多晶矽薄膜电晶 体之缓冲层。 6.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该电浆辅助化学气相沉积系统系为射频 电浆化学气相沉积系统(RF-PECVD)。 7.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该电浆辅助化学气相沉积系统系为电子 回旋共振式化学气相沉积系统(Electron Cyclotron Resonance CVD, ECR-CVD)。 8.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该电浆辅助化学气相沉积系统系为引控 式电浆化学气相沉积系统(Remote Plasma CVD)。 9.如申请专利范围第1项所述之氮氧化矽层之制造 方法,其中该电浆辅助化学气相沉积系统系为磁控 式电浆化学气相沉积系统(Magnetic Plasma CVD)。 图式简单说明: 第1图为本发明实施例的步骤流程图。
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号