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发明名称 METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR100557517(B1) 申请公布日期 2006.03.03
申请号 KR20030083477 申请日期 2003.11.24
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/34;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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